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更新時間：2020-10-26
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光耦參數測試儀 型號：JFY3092B
JFY3092B光耦參數測試儀技術指標
5.1.1 耐壓(BVCEO BVECO)
測試范圍 | 分辨率 | 精度 | 測試條件 |
0-1000V | 0.1V | <1%+2RD | 0-2mA |
5.1.2輸入正向壓降(VF)
測試范圍 | 分辨率 | 精度 | 測試條件 |
0-10V | 1mV | <1%+2RD | 0-400MA |
5.1.3輸出端反向漏電流(ICEO)
測試范圍 | 分辨率 | 精度 | 測試條件 |
0-2000uA | 1nA | <5% +5RD | 0-1000V（+/-1%） |
5.1.4反向漏電流(IR)
測試范圍 | 分辨率 | 精度 | 測試條件 |
0-2000uA | 10nA | <5% +5RD | VR=0-10V（+/-1%） |
5.1.5電流傳輸比(CTR)
測試范圍 | 分辨率 | 精度 | 測試條件 |
0-9999 | 1% | 1% +5RD | BVCE：0-10V IF:0-400MA （+/-1%） |
5.1.6輸出導通壓降(VCE(sat))
測試范圍 | 分辨率 | 精度 | 測試條件 |
0-10.000V | 1mV | 1% +5RD | IC：0-400mA IF:0-400mA （+/-1%） |
5.1.7：可同時測通道數：1通道，2通道 4通道
5.1.8:可分檔位總數：16
5.1.9可連接機械手測試。
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